射频导纳物位计 HL202

 测量原理

传统的电容式物位计，随着物位上涨、物料覆盖探头，电路中探头和介质之间的电容值(导电物料场合)或者探头和管壁之间的电容值(绝缘物料场合)随之增加。由于物位的变化引起了电容桥的失衡因此电容值的变化取决于被测物料的介电常数。然后通过对信号的检波、放大，最后输出相应的信号。但由于结晶以及挂料的影响，电容式物位计无法长时间的稳定输出所测物位。

射频导纳测量技术是具有独特优势的物位测量技术，能够实现阻抗和容抗的单独测量。通过物理定律计算可得，任何挂料的阻抗和容抗的大小是相等的，所以由挂料产生的影响能够被测量出来并且通过振荡电路的移相，从总的输出中消除。射频导纳技术测量结果精度高，并且不受探头挂料的影响，是目前使用场合最广泛的一种测量技术。

仪表优点

抗 挂 料：独特的单独测量阻抗和容抗设计提高了抗挂料能力

适应性强：探头温度范围:-100°C.500C

量程范围：适合测量油水界面和气液界面

界面测量：最小测量量程可达数厘米   更大测量量程可达数百米

不 粘 黏：适合测量粘稠性物料，探头抗挂料

稳定性高：稳定可靠的输出，耐飞灰、落料、水汽、结晶、结蜡影响

免维护：无活动及易磨损部件，无需经常清洁、保养、调试

分体安装：支持分体安装，分体距离可达50m

认证：本质安全认证、隔爆认证、粉尘本安认证