射频导纳物位开关 HL101

测量原理

传统的电容式物位开关，随着物料上涨、物料覆盖探头，电路中探头和介质之间的电容值(导电物料场合)或者探头和管壁之间的电容值(绝缘物料场合)随之增加。由于在探头外壁物料挂料多少的变化导致了电容值的变化，电容值的变化通过电桥的检波、放大、计算，最后输出产生相应的电量变化。射频导纳原理测量技术是经过改良的物位测量技术。该系列产品应用了射频信号，并加入了Driving- Shield 电路，屏蔽了干扰信号和非物料变化产生的信号。Driving-Shield 电路能够阻止射频电流通过挂料形成回路，由挂料产生的影响能够被识别，并且通过电桥的移相等处理从总的输出中消除掉探头端挂料对测量的影响，因此该系列产品具有很强的抗干扰和抗挂料能力。

射频导纳技术测量结果精度高，不受探头挂料的影响，是目前使用场合最广泛的一种测量技术。

仪表优点

抗挂料：独特的单独测量阻抗和容抗设计提高了抗挂料能力

适应性强：探头使用温度范围:-100°C...1200°C

不粘黏：适合测量粘稠性物料，探头无挂料

精度高：水平安装或者有角度安装时精度非常高

供电：支持多样性电源输入，24VDC，220VAC 及交直流自适应电源

稳定性高：输出稳定可靠，耐飞灰、落料、水汽、结晶、结蜡影响，不受密度变化的影响

免维护：无活动及易磨损部件，无需经常清洁、保养、调试

分体安装：支持分体安装，分体距离可达50m

认证：本质安全认证、隔爆本安复合认证、粉尘隔爆认证